在日前舉行的愛德萬測試北京發布會上，愛德萬測試（中國）管理有限公司業務戰略發展部高級總監陸亞奇介紹了中國半導體測試市場的發展趨勢，應用技術支持部高級經理劉旸介紹了新推出的三款新產品。

中國半導體測試市場今非昔比

陸亞奇表示，中國半導體測試市場已從2003年占全球份額的10%多一點發展到今天的50%以上，中國不僅僅是一個制造基地，其核心價值在慢慢提升。中國的IC供應已不能滿足迅速增長的需求，已成為超過石油的第一位進口產品。這源于本地設計公司的不斷發展，2013年，排名前5的設計公司已占到IC設計銷售額的32%，有兩家中國設計公司進入了全球排行前25名。在政府的積極推動下，電子信息產業的發展將推進IC需求不斷增長。

陸亞奇介紹說，愛德萬測試一直在支持中國的半導體測試、儀器儀表測試的發展，除了傳統的半導體測試、機電一體化之外，還涉足電子測量、納米技術，以及太赫茲波測量和MEMS技術等新的業務，以滿足中國半導體測試市場新的需求。

其中CTS云測試服務是行業第一個電子商務平臺，提供按需的測試解決方案。它是專門為教育、半導體研發優化的服務。另一個新業務是旨在徹底改變下一代半導體生產工藝的電子束光刻（EB）解決方案。隨著IC器件的不斷小型化，作為針對新一代設計規則的有用技術，電子束曝光技術正日益受到關注。愛德萬測試提供的電子束光刻系統采用電子束直寫技術，不僅可作為一種研發設計工具，而且也適合作為LSI生產線的工具，特別是針對小批量、多類型產品的生產系統。愛德萬的電子束解決方案有助于降低開發成本，縮短開發周期。

新業務中的掃描電鏡測量/成像系統E3310是一個多視覺計量SEM，支持下一代晶圓，包括1Xnm節點工藝的開發和量產22納米及以下節點。

測試解決方案日臻完善

此次推出的三款新產品分別是針對V93000平臺的PVI8浮動電源、T2000 1.6GDM數字模塊和T2000增強型組件電源供應模塊DPS150AE。

劉旸介紹說，全新PVI8浮動電源可以使V93000平臺測試高電壓和大電流的IC，增強功能幫助受歡迎的測試平臺解決SoC的市場經濟日益融合趨勢。PVI8浮動電源擴展了公司市場領先的V93000測試平臺的高電壓能力和大電流的嵌入式功率器件的測試。此增強功能使V93000足夠的權力和足夠的模擬和在單一平臺上的數字通道進行高度并行的，具有成本效益的嵌入式電源IC的測試。該測試解決方案可滿足對單一SoC（系統級芯片）更高的集成度數字、模擬、高速和高功率功能的趨勢。通過提供的微控制器單元強大的并行測試與嵌入式電源的功能和其他復雜的功率器件，提供了全球半導體產業中第一個極具成本效益的方式測試快速增長設備所需要的通道密度。

愛德萬推出的1.6Gbps數字模塊啟用協議感知測試具有強大的EDA-LINK（FTA-ELINK）

愛德萬推出的新的T2000 1.6GDM數字模塊，旨在提高測試系統的效率芯片的T2000測試平臺上系統（SoC）器件。1.6千兆位每秒模塊采用了新的功能，稱為功能測試抽象加（FTA +），可實現協議感知測試。強大的EDA-Link（稱為FTA-Elink）可直接連接到T2000測試平臺。此外，Verilog代碼可以在有1.6GDM模塊的T2000 EPP（增強型性能套件）系統上運行。裝備的有協議識別引擎的測試儀碼型發生器能夠獨立定時和記憶功能，基于協議的I/O可以以本機方式測量，實現高效的多站點和并發測試。這使客戶能夠顯著加快他們的設計流片，實現更快的產品上市。

愛德萬測試推出的T2000增強型組件電源供應模塊DPS150AE可滿足T2000測試平臺客戶對于微處理器（MPU）、特殊用途集成電路（ASIC）、現場可編程邏輯門陣列（FPGA）等高電流與低電壓半導體的高度精確測試需求，DPS150AE模塊將有助于T2000平臺以較低測試成本提升高產能、多組組件同測的測試效能。DPS150AE模塊采用高速總線技術并結合愛德萬測試的Smart Test Condition Memory（TCM），讓T2000 EPP系統能夠進行模塊分割，以一個模塊并行同測多個組件同時分別監控評估每個待測物。此外還能隨需設定測試條件，再透過TCM快速調整測試，測試工程師不僅可預先加載所有測試程序的參數也能進行編輯，根據圖形立即更改設定。

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